Ce:YAG: un importante cristal de centelleo

Ce:YAG es un cristal de centelleo importante con un rendimiento de centelleo excelente. Tiene alta eficiencia luminosa y amplio pulso óptico. La mayor ventaja es que su longitud de onda central de luminiscencia es de 550 nm, que puede acoplarse eficazmente con equipos de detección como fotodiodos de silicio. En comparación con el cristal de centelleo CsI, el cristal de centelleo Ce:YAG tiene un tiempo de desintegración rápido y el cristal de centelleo Ce:YAG no tiene delicuescencia, es resistente a altas temperaturas y tiene un rendimiento termodinámico estable. Se utiliza principalmente en la detección de partículas ligeras, detección de partículas alfa, detección de rayos gamma y otros campos. Además, también se puede utilizar en imágenes de detección de electrones (SEM), pantallas fluorescentes de imágenes microscópicas de alta resolución y otros campos. Debido al pequeño coeficiente de segregación de los iones de Ce en la matriz de YAG (aproximadamente 0,1), es difícil incorporar iones de Ce en los cristales de YAG, y la dificultad de crecimiento de los cristales aumenta drásticamente con el aumento del diámetro del cristal.
El monocristal Ce:YAG es un material de centelleo de rápida descomposición con excelentes propiedades integrales, con alta salida de luz (20000 fotones/MeV), rápida decadencia luminosa (~70 ns), excelentes propiedades termomecánicas y longitud de onda máxima luminosa (540 nm). combinado con la longitud de onda sensible de recepción del tubo fotomultiplicador ordinario (PMT) y el fotodiodo de silicio (PD), un buen pulso de luz distingue los rayos gamma y las partículas alfa, Ce:YAG es adecuado para detectar partículas alfa, electrones y rayos beta, etc. La buena mecánica Las propiedades de las partículas cargadas, especialmente el monocristal de Ce:YAG, permiten preparar películas delgadas con un espesor inferior a 30 µm. Los detectores de centelleo Ce:YAG se utilizan ampliamente en microscopía electrónica, recuento de rayos beta y X, pantallas de imágenes de rayos X y electrones y otros campos.